外部調節(jié)探針臺,果果儀器外部調節(jié)探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特性。
產品采用半導體冷熱的方式，實現(xiàn)-25~120℃范圍內精準控制，與其他電學儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

產品分類CLASSIFICATION

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詳細介紹

果果儀器外部調節(jié)探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學測試而設計的產品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學性能隨溫度變化的特征。

果果儀器外部調節(jié)探針冷熱臺通過調節(jié)外部位移臺，移動內部探針位置，進行高精度的XYZ方向位移。采用半導體冷熱的方式，實現(xiàn)-25~120℃范圍內精準控制，可與電學儀表（如源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

產品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。

產品特點：

探針冷熱臺		外部調節(jié)探針冷熱臺B
溫控模塊	冷熱方式	半導體
	溫控范圍	-25～120℃ *
	溫度穩(wěn)定性	±0.1℃ *
	溫度分辨率	0.1℃
	升降溫速率	0~30℃/min（可定點 / 程序段控溫）
	溫控方式	PID
	溫度傳感器	P100
光學特性	光路	反射光路 *
	視窗材質	石英玻璃（可手動拆卸更換） *
	視窗尺寸	Φ100mm *
	物鏡工作距離	14mm *
	透光孔	默認無透光孔 *可升級透光孔
電學特性	探針	可調節(jié)探針x4，固定探針x2 *
	探針接口	SMA接口x8 *
	樣品臺面電位	默認電懸空 *可選電接地
結構特性	樣品臺尺寸	40×40mm *
	樣品臺材質	黃銅 *
	外形尺寸	375×375×66mm *
	樣品腔高度	11mm *
	XYZ位移行程	±6.5mm
	探針位移精度	10μm
	腔室	高真空 *
基本配置	外置調節(jié)探針冷熱臺x1、溫度控制器x1、溫控軟件x1、循環(huán)水系統(tǒng)x1、底部XY位移臺x1（適配光學平臺）
選配	電腦主機/安裝支架/真空系統(tǒng)/定制溫控軟件
備注	以上均為默認參數(shù) * 為可定制項